四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x/四探針半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x.

更新時(shí)間：2012-04-07 | 點(diǎn)擊率：671

四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x/四探針半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x 型號(hào):HAD-SB100A/2

HAD-SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改型。

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測(cè)量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電分子材料的電阻及電阻率的測(cè)量。可用于校物理教育實(shí)驗(yàn)，對(duì)導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測(cè)試及研究。本產(chǎn)品的電阻測(cè)量范圍可達(dá)10^-6—10⁶Ω。

（使用環(huán)境5—40℃，相對(duì)濕度<80%，供電220V 50Hz，為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用）

HAD-SB100A/2由HAD-SB118直電壓電源、HAD-PZ158A直數(shù)字電壓表、SB120/2四探針樣品測(cè)試平臺(tái)三分組成。

l HAD-SB118直電壓電源：是臺(tái)4½位的電壓源及電源，既可輸出5µV—50V，5檔可調(diào)電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調(diào)電，基本誤差為

±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品SB118。

l HAD- PZ158A直數(shù)字電壓表：具有6½位字長(zhǎng)，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機(jī)處理的度電子測(cè)量?jī)x器，可測(cè)量0-1000V直電壓?；玖砍痰幕菊`差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品HAD-PZ158A。

l HAD-SB120/2四探針樣品測(cè)試平臺(tái)：該測(cè)試平臺(tái)是HAD-SB120/1測(cè)試平臺(tái)的改型。其有底座、支架、旋動(dòng)件、樣品平臺(tái)、四探針及接線板等組成。由于其整個(gè)結(jié)構(gòu)及旋動(dòng)方式都在原HAD-SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改，故在校的物理實(shí)驗(yàn)及研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測(cè)試、研究提供了較大的方便

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