微波光電導載子復合壽命測試儀/少子壽命測試儀　型號：HAD-100A

HAD-100A型微波光電導載子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料際組織SEMI標準MF1535-0707及家標準GB/T 26068-2010制。并且我單位是微波反射法家標準起草單位之。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質量的重要檢測項目。

北京恒奧德儀器儀表有限公司

     ：/51760331/51717696
     手機    ：//
       :
     地址    : 北京市海淀區(qū)阜城路42號院中裕商務花園6C-211
     傳真    ：
         ：hadgs2009
         ：http://www.51658042.com。 http://jiuzhenduo.com
             : http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/       
           :  2362613514    1169121880   2661074941  1968156761